元器件可靠性试验

安芯检测对外提供元器件可靠性试验服务，包含低温试验、高温试验、低温贮存、高温贮存、恒定温湿度试验、温湿度循环试验。

项目介绍：

在自然环境中，温度和湿度是不可分割的两个自然因素，不同地区由于不同的地理位置，产生的温度、湿度效应也各不相同。

可靠性试验是用来确认电子元器件及电工、电子产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性方法，用于测试和确定进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

试验的严苛程度取决于低温、高温、湿度和曝露持续时间。

适用范围：

适用于各类电子元器件及电工、电子产品

参考标准：

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低温试验方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法Bb

GJB150.4A-2009   低温试验

GJB150.3A-2009   高温试验

GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2001)恒定湿热试验方法Cab

GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交变湿热试验方法Db

GJB150.9A-2009   湿热试验等

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